容器組件
分光干涉位移型多層膜厚測量儀
- 產品名稱：分光干涉位移型多層膜厚測量儀
- 產品型號：SI-T 系列
- 產品廠商：KEYENCE基恩士
- 產品文檔：
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簡單介紹
分光干涉位移型多層膜厚測量儀
的詳細介紹
KEYENCE基恩士 分光干涉位移型多層膜厚測量儀 SI-T 系列 電/微 詳詢 趙13062644508
實現多層膜厚, 采用近紅外光?沒有危害, 實時在線檢測,一秒1000次的采樣頻率,為當今膜厚測量儀的提供新的可能性。
產品特性
粘附層也可以穩定測量
借助 KEYENCE配備的光量累計功能，
類似粘附層等粗糙的表面，也可以實現穩定測量。
實現廣范圍測量
在拉伸制程等過程中，可以應用于上游至下游的各種場所。
KEYENCE基恩士 分光干涉位移型多層膜厚測量儀 SI-T 系列 電/微 詳詢 趙13062644508
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實現多層膜厚, 采用近紅外光?沒有危害, 實時在線檢測,一秒1000次的采樣頻率,為當今膜厚測量儀的提供新的可能性。
產品特性
粘附層也可以穩定測量
借助 KEYENCE配備的光量累計功能，
類似粘附層等粗糙的表面，也可以實現穩定測量。
實現廣范圍測量
在拉伸制程等過程中，可以應用于上游至下游的各種場所。