HORIBA堀場 光柵/掩模粒子檢測系統(tǒng)
- 產(chǎn)品名稱:HORIBA堀場 光柵/掩模粒子檢測系統(tǒng)
- 產(chǎn)品型號:PD10-EX
- 產(chǎn)品廠商:HORIBA堀場制作所
- 產(chǎn)品文檔:
HORIBA堀場 光柵/掩模粒子檢測系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹HORIBA堀場制作所 光柵/掩模粒子檢測系統(tǒng)PD10-EX
HORIBA堀場制作所 光柵/掩模粒子檢測系統(tǒng)PD10-EX
HORIBA堀場制作所 光柵/掩模粒子檢測系統(tǒng)PD10-EX
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用一臺機器完成顆粒檢測和去除,提高半導(dǎo)體制造工藝的效率和良率
自1984年推出以來,半導(dǎo)體光刻工藝不可或缺的PD系列粒子檢測系統(tǒng)不斷發(fā)展,以響應(yīng)客戶的需求,今年是其40周年紀(jì)念日。
新產(chǎn)品“PD10- ex”在流行的常規(guī)型號“PD10”的基礎(chǔ)上,增加了顆粒去除功能,實現(xiàn)了一臺設(shè)備即可完成檢測和去除。
此外,我們已經(jīng)開發(fā)了一個內(nèi)部單元,支持自動光柵/掩模傳輸,有助于更有效的半導(dǎo)體制造工藝和更高的產(chǎn)量。
半導(dǎo)體行業(yè)的分析、測量和控制需求正在以****的速度變化,變得更加復(fù)雜和多樣化。我們正在努力擴展PD10-EX的功能,使其能夠進行顆粒組成的一站式分析和膜※1膜厚度的測量,并且我們將在未來繼續(xù)呈現(xiàn)新的可能性。
1. 通過整合顆粒檢測和去除過程,提高工作效率和產(chǎn)量
我們的“RP-1”顆粒去除劑的功能,其顆粒去除率超過95%※2,已與“PD10”集成。
這使得自動檢測和去除顆粒成為可能。它還配備了一個多端口,允許同時設(shè)置兩個包含網(wǎng)格/掩模的病例,允許連續(xù)的顆粒檢測和去除。
2. 通過與自動輸送設(shè)備連接,促進制造過程中的自動化和勞動力節(jié)約
我們開發(fā)了自己的EFEM(設(shè)備前端模塊:一個在OHT※3和需要與OHT系統(tǒng)接口的粒子檢測系統(tǒng)之間傳輸光柵/掩模的單元),用于半導(dǎo)體制造工廠。我們靈活地響應(yīng)客戶的規(guī)格,并有助于自動化和節(jié)省勞動力-這對于提高生產(chǎn)力,消除勞動力短缺和簡化制造區(qū)域至關(guān)重要。

※1防塵膜,防止顆粒附著在網(wǎng)線/口罩的圖案表面
※2內(nèi)部測試結(jié)果,玻璃表面附著5μm玻璃珠。效果可能因使用和條件而異。
※3架空葫蘆運輸:一種自動運輸裝置,使被運輸物體處于懸掛狀態(tài),在安裝在吊頂上的軌道上運行